高溫老化房要達到滿意的合格率。幾乎所有產品在出廠前都必須進行老化。
在半導體工業中，關于器件老化的爭論很多。像其他產品一樣，由于各種原因，半導體可能隨時失效。高溫老化房的老化是為了使半導體過載，從而在短時間內發生缺陷，以避免早期使用中的故障。如果不老化，由于設備和制造工藝的復雜性，許多半導體產品將在使用中引起許多問題。
在使用后數小時至數天之內發生的缺陷稱為早期故障，而在故障后老化的設備基本上需要100％消除由該時間引起的故障。準確確定老化房老化時間的唯一方法是參考以前收集的老化故障統計信息和老化房的故障分析。大多數制造商都希望減少或消除老化。
老化房的老化過程必須確保工廠的產品滿足用戶對可靠性的要求。另外，它還必須提供工程數據以改善設備的性能。
在高溫老化房中進行老化測試的意義如下：
電子和電氣產品，無論是組件，零件還是完整的設備，都必須進行老化和測試。
老化和測試不是一個概念。您必須在老化之前進行測試。
電子產品是通過制造制造的，形成了可以使用的完整產品。但是，使用該產品后，發現會出現此類小故障，并且發現這些小故障大多數發生在數小時至數十次之內。數小時之內，電子產品的老化和測試就開始了。然后簡單規定。模擬等效或超出產品使用狀態的過程由產品制造商完成。
通過重新測試，將有問題的產品留在維修線上，將沒有問題的產品提供給用戶，以確保提供給用戶的產品可靠或出現問題的可能性較小。這就是老化測試的含義。
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